Yüksek Hızlandırılmış Stres Testi (HAST), elektronik ürünlerin güvenilirliğini ve ömrünü değerlendirmek için tasarlanmış oldukça etkili bir test yöntemidir. Yöntem, elektronik ürünlerin uzun bir süre boyunca maruz kalabileceği stresleri, onları çok kısa bir süre boyunca yüksek sıcaklıklar, yüksek nem ve yüksek basınç gibi aşırı çevre koşullarına maruz bırakarak simüle eder. Bu test, olası kusurların ve zayıflıkların keşfedilmesini hızlandırmakla kalmaz, aynı zamanda ürün teslim edilmeden önce olası sorunları belirlemeye ve çözmeye yardımcı olur, böylece ürünün genel kalitesini ve kullanıcı memnuniyetini artırır.
Test Nesneleri: Çipler, anakartlar ve cep telefonları ve tabletlere yüksek hızlandırılmış stres uygulayarak sorunları canlandırmak.
1. Arıza oranını mümkün olan en büyük ölçüde azaltmak için ithal yüksek sıcaklığa dayanıklı solenoid valf çift kanallı yapısının benimsenmesi.
2. Ürüne buharın doğrudan etki etmesini önlemek ve ürüne lokal zarar vermemek için bağımsız buhar üretim odası.
3. Kapı kilidi tasarruf yapısı, ilk nesil ürünlerin disk tipi kulp kilitleme zor eksikliklerini çözmek için.
4. Testten önce soğuk havayı boşaltın; basınç kararlılığını ve tekrarlanabilirliği artırmak için soğuk hava egzoz tasarımını (test namlusu hava deşarjı) test edin.
5. Ultra uzun deneysel çalışma süresi, uzun deneysel makine 999 saat çalışıyor.
6. Su seviyesi koruması, test odası su seviyesi Sensörü algılama koruması aracılığıyla.
7. Su temini: Otomatik su temini, ekipman bir su tankı ile birlikte gelir ve su kaynağının kirlenmemesini sağlamak için açıkta değildir.
