Yüksek Hızlandırılmış Stres Testi (HAST), elektronik ürünlerin güvenilirliğini ve ömrünü değerlendirmek için tasarlanmış oldukça etkili bir test yöntemidir. Yöntem, elektronik ürünleri çok kısa bir süre için yüksek sıcaklık, yüksek nem ve yüksek basınç gibi aşırı çevre koşullarına maruz bırakarak uzun bir süre boyunca yaşayabileceği stresleri simüle ediyor. Bu test, olası kusur ve zayıflıkların tespitini hızlandırmanın yanı sıra, ürün teslim edilmeden önce olası sorunların tespit edilip çözülmesine de yardımcı olarak ürünün genel kalitesini ve kullanıcı memnuniyetini artırır.
Test Nesneleri: Sorunları tetiklemek için yüksek oranda hızlandırılmış stres uygulayan çipler, anakartlar ve cep telefonları ve tabletler.
1. Arıza oranının kullanımını azaltmak için ithal yüksek sıcaklığa dayanıklı solenoid valf çift kanallı yapının benimsenmesi.
2. Ürüne yerel zarar vermemek amacıyla buharın ürün üzerinde doğrudan etkisini önlemek için bağımsız buhar üretim odası.
3. Kapı kilidi tasarruflu yapı, ilk nesil ürünlerin disk tipi tutamak kilitleme zor eksikliklerini çözmek için.
4. Testten önce soğuk havayı boşaltın; Basınç stabilitesini ve tekrarlanabilirliği geliştirmek için egzoz soğuk hava tasarımında test yapın (varil hava tahliyesini test edin).
5. Ultra uzun deneysel çalışma süresi, 999 saat çalışan uzun deneysel makine.
6. Test odası su seviyesi Sensörü algılama koruması aracılığıyla su seviyesi koruması.
7. Su temini: otomatik su temini, ekipman bir su deposuyla birlikte gelir ve su kaynağının kirlenmemesini sağlamak için açıkta kalmaz.
